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反射測量支架
- 撓性結(jié)構(gòu)鎖緊，上下左右可調(diào)
- 最大可夾持直徑6.35 mm
- 通過光纖適配光譜儀與光源集成檢測系統(tǒng)
- 產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品說明
晶萃光學(xué)JCOPTIX提供的反射測量支架，采用撓性鎖緊結(jié)構(gòu)，通過手柄螺絲進行鎖緊，調(diào)節(jié)便捷，穩(wěn)定性高。通過適配光纖，可與光譜儀和光源集成簡易檢測系統(tǒng)，用于反射光譜測量，漫反射光纖探頭除了可以測量漫反射光譜，還可以用于檢測固體表面的熒光光譜。
反射測量支架
- 撓性結(jié)構(gòu)鎖緊，上下左右可調(diào)
- 最大可夾持直徑6.35 mm
- 底座采樣區(qū)域直徑110 mm
晶萃光學(xué)JCOPTIX提供的反射測量支架，采用撓性鎖緊結(jié)構(gòu)，通過手柄螺絲進行鎖緊，調(diào)節(jié)便捷，穩(wěn)定性高。反射測量支架的底座直徑為150 mm，采樣區(qū)域直徑為110 mm，底部刻有基準(zhǔn)線。固定探頭的橫桿上方帶有刻度線，可根據(jù)需求快速調(diào)整定位，橫桿可夾持最大直徑為6.35 mm的光纖探頭或其它采樣光學(xué)器件，并通過側(cè)面的M4手擰螺絲（PA6）固定。
| 產(chǎn)品型號 | 3D預(yù)覽 | 最大夾持高度 | 最大夾持直徑 | 采樣區(qū)尺寸 | 分享 | 對比 | 單價 | 發(fā)貨日期 | 購物車 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 82 mm | 6.35 mm | ?110 mm | ￥3,035.00 | 當(dāng)天 |